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池州局部放电检测仪概述 随着社会的进步，科学的发展，人类对能源的需求愈来愈大，由于电力在人们生活当中是不可缺少的一份重要的资源，从而促进电力工业的迅猛发展。随着网络电压的提高和新的生产工艺、技术对预防性试验放在了议事日程上。为了增加输出发配电设备的使用寿命，现对一些设备提出了局部放电试验的要求。为了适应不同的电压等级，不同容量的电力设备进行工频电压试验，我厂制造各种规格的工频无局部放电试验变压器及其成套装置，用户根据需求自行选择。从结构型式上分可分为：单相铁壳式、单相铁壳串级式、单相绝缘筒外壳式和单相绝缘筒外壳串级式四种。单相铁壳式一般适用于电压容量较低且便于携带或电压容量较大固定式，但对局部放电量要求较低的场合；单相绝缘筒式一般适用于对局部放电量要求较高；电压不太高，且比较固定使用的场合，单相绝缘筒式、串级式，主要适用于对局部放电要求较高、电压高、容量大或电压容量大便于携带的场合，以上四种型号供用户根据不同要求自行选择。
池州局部放电检测仪 在了解了局部放电的基本理论之后，在本章我们的重点转向实际操作，我们先介绍局部放电测试中常用的三种接法，随后我们再介绍整个系统的接线电路，我们再分别介绍几种典型的试品的试验线路。局部放电测试电路的三种基本接法及优缺点。并联法 串联法 平衡法（1）标准试验电路，又称并联法。适合于必须接地的试品。其缺点是高压引线对地杂散电容并联在 CX上，会降低测试灵敏度。（2）接法的串联法，其要求试品低压端对地浮置。其优点是变压器入口电容、高压线对地杂散电容与耦合电容CK并联，有利于提高试验灵敏度。缺点是试样损坏时会损坏输入单元。（3）平衡法试验电路：要求两个试品相接近，至少电容量为同一数量级其优点是外干扰强烈的情况下，可取得较好抑制干扰的效果，并可消除变压器杂散电容的影响，而且可做大电容试验。缺点是须要两个相似的试品，且当产生放电时，需设法判别是哪个试品放电。值得提出的是：由于现场试验条件的限制（找到两个相似的试品且要保证一个试品无放电不太容易），所以在现场平衡法比较难实现，另外，由于采用串联法时，如果试品击穿，将会对设备造成比较大的损害，所以出于对设备保护的想法，在现场试验时一般采用并联法。二、采用并联法的整个系统的接线原理图。该系统采用脉冲电流法检测高压试品的局部放电量，由控制台控制调压器和变压器在试品的高压端产生测试局放所需的预加电压和测试电压，通过无局放藕合电容器和检测阻抗将局部放电信号取出并送至局部放电检测仪显示并判断和测量。系统中的高压电阻为了防止在测试过程中试品击穿而损坏其他设备，两个电源滤波器是将电源的干扰和整个测试系统分开，降低整个测试系统的背景干扰。
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池州局部放电检测仪数字式局部放电测试系统快速使用指南开启电源：连接试验电路，并确认无误后，首先开启系统电源，仪器电源插座及电源开关在仪器背面，打开仪器电源开关，仪器的信号处理电路开始工作，再启动计算机电源开关（仪器正面ON/OFF）,启动计算机进入WINDOWS XP系统。启动仪器：在WINDOWS XP 系统桌面上，使用鼠标双击“JFD-2010”图标，启动进入局放系统。系统校正步骤注意：进行校正操作时要确定整个试验区尤其是试验电路处于断电的状态。重要！！以第2个通道进行50PC的校正量的校正。步骤1、在软件界面右侧功能区内，选择“通道步骤2、在通道校正的数值框内填上，步骤点击“校正”，进入校正状态。步骤4、使用校正脉冲发生器给系统的第2通道试品注入的校正量，正常情况下在第2通道的示波窗口显示一排脉冲，图九：校正脉冲注入后图形步骤5、调整“粗调”，“细调”使脉冲足够大而不过载。“粗调”常规在3档。步骤6、调整使脉冲与干扰的差距显著，即信号与噪声的比较（信噪比）越大越好。“FH”常规是200KHz，常规是20KHz。步骤7、点击“完成”，系统对第2通道的校正完成，注意，要移开校正脉冲发生器并关闭发生器电源，进入测量等待状态。滤波频带和增益设置的说明：滤波频带是由组成的一个带通滤波器，“FL”为高通滤波器，如选择10KHz，则信号中大于10KHz的频率信号可以通过，小于10KHz的频率信号将会有很大的衰减；为低通滤波器，如选择300KHz，则信号中小于300KHz的频率信号可以通过，大于300KHz的频率信号将会有很大的衰减；这样由“FL”、“FH”组成的带通滤波器可以滤除掉部分频率的干扰信号。频带选择的原则是：根据现场干扰情况，灵活选择“FL”、“FH”各种组合，带宽选择尽可能大，因为这样，信号放大电路可以获得比较高的灵敏度，能够有效改善信噪比。增益的设置：因为试品的不同，整个试验回路的灵敏度会有所不同，这样在校正时就要调整放大器的增益，可根据情况分别调整放大器增益粗调和放大器细调，使校正脉冲显示能够清晰区别噪声信号，一般可将校正脉冲信号高度调整到纵坐标1.5的高度为宜。注意：滤波频带和增益的设置都应该在校正时完成，校正完成后，就不应该进行调整，原则上在什么档位上校正的，就在那一档位上测量局放，选择的校正量应该尽量接近试品的放电量。
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